คำอธิบาย
เครื่องวิเคราะห์สมบัติของพื้นผิววัสดุ (Contact Angle Measurement, Optical Tensiometer Model Theta Lite)
เครื่องวิเคราะห์การเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์ (X-ray Diffractometer, XRD), Benchtop XRD “Malvern PANalytical Aeris Research Edition, 300W)
เครื่องปรับแต่งพื้นผิววัสดุด้วยพลาสมาอุณหภูมิต่ำที่ความดันบรรยาศ (Surface Modifier by Low-Temperature Plasma at Atmospheric Pressure )
เครื่องย่อยขนาดอนุภาคด้วยคลื่นอัลตราซาวด์ (Ultrasonic Homogenizer)
รีวิว
ยังไม่มีบทวิจารณ์